Détail de la notice
Titre du Document
The determination of temperatures during the period of SXES measurements performed with AlMgSi alloys
Détermination des températures pendant la période de mesures SXES effectuées avec des alliages AlMgSi
Auteur(s)
KERTESZ L. ; SZASZ A. ; KATSNELSON A. A.
Résumé
La première étape dans l'étude de la structure électronique des états métastables de l'alliage est la détermination de la température de mesure. En combinant les méthodes SXES et ATD on voit que la température de l'alliage soumis à un faisceau de 5 W pendant 48 minutes n'atteint pas 473 K et qu'elle atteint 573 K quand un faisceau de 10 Wagit pendant 10 minutes
Editeur
Gordon and Breach
Identifiant
ISSN : 0011-2305
Source
Crystal lattice defects A. 1982, vol. 9, n° 4, pp. 211-217 [bibl. : 15 ref.]
Langue
Anglais
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