Détail de la notice
Titre du Document
High coercivity Sm2Fe17Nx and related phases in sputtered film samples
Auteur(s)
RANI R. ; HEGDE H. ; NAVARATHNA A. ; ...
Corporation(s) du ou des auteurs
American Institute of Physics New York NY USA (Commanditaire); Institute of Electrical and Electronics Engineers. Magnetics Society USA (Commanditaire); Minerals, Metals, and Materials Society Warrendale PA USA (Commanditaire); Office of Naval Research USA (Commanditaire); American Society for Testing and Materials USA (Commanditaire); American Physical Society New York NY USA (Commanditaire); American Ceramic Society Westerville OH USA (Commanditaire)
Résumé
High coercivity film samples of the ordered Sm2Fe17Nx phase with intrinsic coercivities, iHc' up to 23 kOe at 293 K, and 35 kOe at 10 K, were synthesized by rf sputtering. Random orientation Sm2Fe17 films were formed by the subsequent crystallization of originally amorphous deposits. The iHc of the original Sm2Fe17 films was 0.75 kOe at 293 K. X-ray diffractometer traces from 2θ=28o to 73o, Cuna, exhibited 14 lines. Before nitriding all 14 lines were fit to the 2-17 rhombohedral structure with a=8.555 Å, c=12.445 Å, with a weighted root-mean-square deviation in 2θ of 0.01o
Editeur
American Institute of Physics
Type du document
Conférence : Annual conference on magnetism and magnetic materials, 37, Houston TX, USA, 1992-12-01
Identifiant
ISSN : 0021-8979 CODEN : JAPIAU
Source
Journal of applied physics A. 1993, vol. 73, 2A, pp. 6023-6025 [bibl. : 10 ref.]
Langue
Anglais
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