Détail de la notice
Titre du Document
Surface inspection of hard to reach industrial parts using low-coherence interferometry
Auteur(s)
DUFOUR M. L. ; LAMOUCHE G. ; VERGNOLE S. ; ...
Corporation(s) du ou des auteurs
TeraXion INC (Organisateur de congrès); Canadian Association of Physicists CAN (Organisateur de congrès); Society of photo-optical instrumentation engineers USA (Organisateur de congrès)
Résumé
Optical inspection tools based on low-coherence interferometry and specialized for hard to reach industrial parts are presented. A common path configuration using optical fiber components is described. Small diameter probes originally developed for biomedical applications have been specialized for industrial inspection. Probes that can be used with a Cartesian surface scanning system or a cylindrical scanning system are presented. The probes include a reference that makes absolute accuracy measurements easier. Characterization of the internal surface of a worn plasma torch electrode has been realized using that technique. Surface profiling of the barrel of a gun was also performed.
Editeur
SPIE
Type du document
Conférence : International Conference on Applications of Photonic Technology, 8, Quebec PQ, CAN, 2006
Identifiant
ISSN : 0277-786X ISBN : 0-8194-6428-7 CODEN : PSISDG
Source
Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering A. 2006, vol. 6343, 2, pp. 63431Z.1-63431Z.7 [bibl. : 7 ref.]
Langue
Anglais
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